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电压互感器的绝缘实验方法

电压互感器的绝缘实验方法

一、电压互感器的实验项目
    20kV及以下电压等级的电压互感器，多选用干式固体夹层绝缘结构。但也有一部分是户内用的油浸式夹层绝缘结构。关于它们的绝缘实验和电流互感器基本相同，但依据现场的实践需要，有时添加感应耐压实验。
    35～66kV电压等级的电压互感器应进行绝缘电阻测验、沟通耐压(串级绝缘不能进行)、感应耐压、介质丢失正切值(tanδ)等项实验。
    66kV以上电压等级的电压互感器还应添加绝缘油中溶解气体剖析实验。
    上述各项实验方法，可参阅变压器实验和绝缘油实验的有关项目。唯有对串级式电压互感器的tanδ值丈量要采纳另外的接线才能得到正确的判别。
    二、串级式电压互感器的tanδ值丈量方法
    有高压规范电容器自激法、电容式电压互感器的实验方法、低压规范电容器自激法、结尾屏蔽法。依据现场具体情况选用丈量方法。
    1.高压规范电容器自激法
    选用高压沟通电桥，高压规范电容器自激法丈量串级式电压互感器的tanδ值接线如图1-1所示。图中A-X为两元件铁芯串接高压侧绕组的出线端，a-x为低压侧绕组出线端，ad-xd为低压侧辅佐绕组出线端。图中使用电压互感器自身作为实验变压器，套管和绕组的对地电容作为Cx。这种线路的电压散布与电压互感器工作时共同。所以避免了高压侧绕组挨近低压端的容量大，形成主要反映低压端介质丢失的缺陷。如能选用更高电压的规范电容器，使自激电压到达额定值，就更挨近实践。如国产的250kV六氟化硫规范电容器，就能够满意110kV及220kV的电压互感器在工作电压下用自激法测tanδ的实验。实验方法和用QS1型电桥对角接线法丈量tanδ的方法彻底一样，因为桥体处于低压端，所以规范电容器能够选用更高电压等级的，以满意电压互感器的丈量要求。
 
图1-1 选用高压规范电容器自激法丈量tanδ值接线
 2.低压规范电容器自激法
    如图1-2所示，使用QS1型桥体内的规范电容做电桥的规范臂，对串级式互感器进行自激丈量tanδ值。
 
图1-2 使用低压规范电容器自激法丈量tanδ值接线
 由图1-2可知，电桥的供电是取自辅佐绕组端子上所感应的电压，规范电容桥臂接受的电压较低，此刻辅佐绕组的负荷很小，U1和U2向量基本上是重合的，经验证明他们之间的角差影响能够忽略不计。
    不管用高压规范电容器自激法，仍是用低压规范电容器自激法，在丈量串级式互感器的值时，依然避免不了强电场的干扰影响。其干扰源，一个来自互感器高压侧外界电场(附近的高压设备)，一个来自二次侧激磁系统。前者可选用高压屏蔽的方法，具体方法参阅变压器的实验，后者可将调压设备的接地点尽量挨近滑动接点。另外还能够合作互换自激电源的相位，使干扰减少到zui小程度。
    3.结尾屏蔽法
    如图1-3所示，同样能够使用QS1型高压电桥进行丈量，并需用高压实验变压器B，在被试电压互感器的高压侧激磁，同时供应电桥电源。低压结尾接地，低压绕组也处于较低电位，这样基本上避免了小套管因受潮和脏污对丈量值的影响。可见，结尾屏蔽法的接线只能测出和低压绕组及辅佐绕组直接耦合的高压绕组部分的tanδ值。结尾屏蔽法同样有电源系统和外界电场的干扰问题，其防止措施和自激法相同。
 
图1-3 用结尾屏蔽法丈量tanδ值接线
 4.电容式电压互感器的实验方法
    电容式电压互感器接线如图1-4所示，由电容分压器(包含主电容器C1，分压电容器C2)、中心变压器(即中心互感器YH)、共振电抗器L1、载波阻抗器L2及阻尼电抗器R等元件组成。
 
图1-4 电容式电压互感器接线图
g——保护间隙；K——断路开关
 其介质丢失角tanδ值的测验，可分单元件实验。例如，对电容器，可照电力电容的要求进行实验；对中心变压器，可选用“自激法”或“结尾屏蔽法”均可得到有效的成果。

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世通仪器校准机构，是一家专业做仪器校准的机构，并出具权威的 认可CNAS校准，本公司余2005年10月24日成立，实验室包括有：广东世通实验室，江苏世通实验室，重庆世通实验室，上海世通实验室，福建世通实验室，西安世通实验室，成都世通实验室。全国下厂服务的第三方 认可的机构，3-5天出，世通在全国各地均设有工程部，欢迎致电详谈！
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小周告诉你温度冲击试验箱疑难杂症 不用担心这里有解决办法
两箱式温度冲击试验箱分为高温室和低温室，其箱体结构设计采用独特的断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物完全静止，应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。在试验过程中我们也许会碰到试验箱提篮不工作，出现此类现象的原因是什么呢？

      1、温度冲击试验箱提蓝卡死，打开试验箱门，目测提篮是否有卡住现象；
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      3、外部电源未供气或调压阀损坏；
      4、钢丝绳松动或断裂。
      两箱式温度冲击试验箱符合标准：
      GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
      GB/T2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
      GB/T10592-2008  高低温箱技术条件
      GJB150.-2009  军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
      GJB360A-1996方法107温度冲击试验的要求
      GJB 360.7-1987 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验